Measurement Of residual and applied stress using neutron diffraction. [texte imprimé] / Hutchings,Michael T, Auteur ; Krawitz,Aaron D, Auteur . - [S.l.] : Kluwer academic publishers, 1992 . - 588p. : ill. ; 16*24cm. ISBN : 978-0-7923-1809-5 index. Langues : Anglais (eng)
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Exemplaires (1)
| Code-barres | Cote | Support | Localisation | Section | Disponibilité |
|---|---|---|---|---|---|
| 9492/2 | 02-01-077 | Ouvrage | Bibliothèque Universitaire Centrale | Eléctrotéchnique | Exclu du prêt |

