Titre :	Diffraction des rayons X sur échantillons polycristallins
Type de document :	texte imprimé
Auteurs :	René Guinebretière, Auteur
Mention d'édition :	2e éd. rev. et augm.
Editeur :	Paris : Hermès science publications
Année de publication :	2006
Importance :	361 p.
Présentation :	ill.
Format :	24 x 16 cm
ISBN/ISSN/EAN :	978-2-7462-1238-1
Prix :	95 EUR
Note générale :	Bibliogr. Index
Langues :	Français (fre)
Mots-clés :	radiocristallographie  polycristaux  analyse
Index. décimale :	510.285 53
Résumé :	Présentation d'une méthode d'analyse des matériaux par diffraction des rayons X par des échantillons polycristallins et de ses applications en sciences des matériaux. Détail de l'analyse cristallographique des échantillons polycristallins qui peuvent être monophasés ou constitués de l'assemblage de cristaux de différentes phases cristallines.

Diffraction des rayons X sur échantillons polycristallins [texte imprimé] / René Guinebretière, Auteur  . -  2e éd. rev. et augm. . - Paris : Hermès science publications, 2006 . - 361 p. : ill. ; 24 x 16 cm.
ISBN : 978-2-7462-1238-1 : 95 EUR
Bibliogr. Index

Langues : Français (fre)

Mots-clés :	radiocristallographie  polycristaux  analyse
Index. décimale :	510.285 53
Résumé :	Présentation d'une méthode d'analyse des matériaux par diffraction des rayons X par des échantillons polycristallins et de ses applications en sciences des matériaux. Détail de l'analyse cristallographique des échantillons polycristallins qui peuvent être monophasés ou constitués de l'assemblage de cristaux de différentes phases cristallines.