Titre : | Détecteurs à semi-conducteurs - : Principes et matériaux pour la détection et l'imagerie des rayonnements nucléaires | Type de document : | texte imprimé | Auteurs : | Jean-Pierre, Ponpon, Auteur | Editeur : | Paris: Ellipses | Année de publication : | 2007 | Collection : | Technosup | Importance : | 219 p | Présentation : | ill | Format : | 17,5 cm × 26,0 cm | ISBN/ISSN/EAN : | 978-2-7298-3657-3 | Prix : | 39,00 € | Note générale : | Index-Annex-Bibliogr.p(217). | Langues : | Français (fre) | Mots-clés : | semi-conducteurs rayonnements nucléaires | Index. décimale : | 539.77 PON | Résumé : | A tous ceux qui ont à connaître ou à pratiquer la détection des rayonnements nucléaires dans des domaines aussi variés que la physique nucléaire, la chimie, la biologie, la médecine, l'environnement, la radioprotection... l'ouvrage propose une synthèse cohérente d'informations généralement éparses. Il traite, de façon claire et précise, à la fois les aspects complémentaires de l'absorption des rayonnements, du signal qui en résulte et de son exploitation. L'auteur explique les différents processus qui conduisent de l'absorption d'un rayonnement ionisant dans un semi-conducteur à l'exploitation de cette interaction. Il fait apparaître la diversité des modes d'utilisation possibles et l'intérêt des détecteurs à semi-conducteurs pour un très large champ d'applications. Faisant une large part à l'aspect matériau des détecteurs, il insiste sur la variété des semi-conducteurs disponibles. Il montre l'intérêt de la détection à l'aide de semi-conducteurs autres que le silicium et le germanium en effectuant une comparaison des performances atteintes au regard des applications envisagées. Parmi ces dernières il met particulièrement l'accent sur l'imagerie des rayons X, domaine dans lequel les avancées sont les plus marquantes et qui est appelé à connaître des développements importants. | Note de contenu : | Rappels sur les semi-conducteurs
Principes de base
Exploitation des données
Matériaux pour détecteurs
Détecteurs à base de germanium et de silicium
Semi-conducteurs exotiques
Performances comparées
Méthodes de caractérisation |
Détecteurs à semi-conducteurs - : Principes et matériaux pour la détection et l'imagerie des rayonnements nucléaires [texte imprimé] / Jean-Pierre, Ponpon, Auteur . - [S.l.] : Paris: Ellipses, 2007 . - 219 p : ill ; 17,5 cm × 26,0 cm. - ( Technosup) . ISBN : 978-2-7298-3657-3 : 39,00 € Index-Annex-Bibliogr.p(217). Langues : Français ( fre) Mots-clés : | semi-conducteurs rayonnements nucléaires | Index. décimale : | 539.77 PON | Résumé : | A tous ceux qui ont à connaître ou à pratiquer la détection des rayonnements nucléaires dans des domaines aussi variés que la physique nucléaire, la chimie, la biologie, la médecine, l'environnement, la radioprotection... l'ouvrage propose une synthèse cohérente d'informations généralement éparses. Il traite, de façon claire et précise, à la fois les aspects complémentaires de l'absorption des rayonnements, du signal qui en résulte et de son exploitation. L'auteur explique les différents processus qui conduisent de l'absorption d'un rayonnement ionisant dans un semi-conducteur à l'exploitation de cette interaction. Il fait apparaître la diversité des modes d'utilisation possibles et l'intérêt des détecteurs à semi-conducteurs pour un très large champ d'applications. Faisant une large part à l'aspect matériau des détecteurs, il insiste sur la variété des semi-conducteurs disponibles. Il montre l'intérêt de la détection à l'aide de semi-conducteurs autres que le silicium et le germanium en effectuant une comparaison des performances atteintes au regard des applications envisagées. Parmi ces dernières il met particulièrement l'accent sur l'imagerie des rayons X, domaine dans lequel les avancées sont les plus marquantes et qui est appelé à connaître des développements importants. | Note de contenu : | Rappels sur les semi-conducteurs
Principes de base
Exploitation des données
Matériaux pour détecteurs
Détecteurs à base de germanium et de silicium
Semi-conducteurs exotiques
Performances comparées
Méthodes de caractérisation |
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