Titre :	Semiconductor Material And Device characterization.
Type de document :	texte imprimé
Auteurs :	Schroder,Dieter K, Auteur
Editeur :	John wiley & sons,inc.
Année de publication :	1990
Importance :	599p.
Présentation :	ill.
Format :	16*24cm.
ISBN/ISSN/EAN :	978-0-471-51104-5
Note générale :	index.
Langues :	Anglais (eng)
Mots-clés :	Semiconductor Material  Device characterization.

Semiconductor Material And Device characterization. [texte imprimé] / Schroder,Dieter K, Auteur . - [S.l.] : John wiley & sons,inc., 1990 . - 599p. : ill. ; 16*24cm.
ISBN : 978-0-471-51104-5
index.
Langues : Anglais (eng)

Mots-clés :

Semiconductor Material  Device characterization.