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The Electrical Characterization of semiconductors:Measurement of minority carrier properties. / Orton,J.W
The Electrical Characterization of semiconductors:Measurement of minority carrier properties. [texte imprimé] / Orton,J.W, Auteur ; Blood,P, Auteur . - New York, San Francisco, London : Academic Press, 1990 . - 291p. : ill. ; 15*23cm. ISBN : 978-0-12-528625-1 index,bibliographie Langues : Anglais (eng)
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Exemplaires
Code-barres | Cote | Support | Localisation | Section | Disponibilité |
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2235/1 | 02-03-057 | Ouvrage | Bibliothèque Universitaire Centrale | Eléctrotéchnique | Exclu du prêt |