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Auteur w. s. lau
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Affiner la rechercheInfrared Characterization for Microelectronics / w. s. lau
Titre : Infrared Characterization for Microelectronics Type de document : texte imprimé Auteurs : w. s. lau, Auteur Editeur : world scientific Année de publication : 1999 Importance : 160p Format : 22*15 CM ISBN/ISSN/EAN : 978-981-02-2352-6 Langues : Anglais (eng) Résumé : The focus of this text is on practical applications useful to the production line and to the research and development of microelectronics. The background knowledge and significance of doing a particular type of infrared measurement is discussed in detail. The principal purpose of the book is to serve as a useful handbook for practising engineers and scientists in the field of microelectronics. Infrared Characterization for Microelectronics [texte imprimé] / w. s. lau, Auteur . - [S.l.] : world scientific, 1999 . - 160p ; 22*15 CM.
ISBN : 978-981-02-2352-6
Langues : Anglais (eng)
Résumé : The focus of this text is on practical applications useful to the production line and to the research and development of microelectronics. The background knowledge and significance of doing a particular type of infrared measurement is discussed in detail. The principal purpose of the book is to serve as a useful handbook for practising engineers and scientists in the field of microelectronics. Exemplaires
Code-barres Cote Support Localisation Section Disponibilité F-T 480/2 F-T 02-08-064 Ouvrage Bibliothèque de la Faculté de Technologie Eléctrotéchnique Disponible F-T 481/1 F-T 02-08-064 Ouvrage Bibliothèque de la Faculté de Technologie Eléctrotéchnique Exclu du prêt