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Infrared Characterization for Microelectronics / w. s. lau
Infrared Characterization for Microelectronics [texte imprimé] / w. s. lau, Auteur . - [S.l.] : world scientific, 1999 . - 160p ; 22*15 CM. ISBN : 978-981-02-2352-6 Langues : Anglais (eng)
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Exemplaires
Code-barres | Cote | Support | Localisation | Section | Disponibilité |
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F-T 480/2 | F-T 02-08-064 | Ouvrage | Bibliothèque de la Faculté de Technologie | Eléctrotéchnique | Disponible |
F-T 481/1 | F-T 02-08-064 | Ouvrage | Bibliothèque de la Faculté de Technologie | Eléctrotéchnique | Exclu du prêt |